Testclips - IC

5998AL

5998AL

Teilbestand: 8430

Art: QFP, 0.50mm Pitch, Anzahl der Positionen oder Pins (Raster): 240 (17 x 17), Kontakt Finish: Gold,

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5961-2

5961-2

Teilbestand: 3495

Art: QFP, 0.80mm Pitch, Anzahl der Positionen oder Pins (Raster): 44 (4 x 11), Kontakt Finish: Gold,

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5014/POM

5014/POM

Teilbestand: 6376

Art: DIP, Standard, Anzahl der Positionen oder Pins (Raster): 14 (2 x 7), Kontaktmaterial: Nickel Silver,

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5312

5312

Teilbestand: 1186

Art: PLCC, Anzahl der Positionen oder Pins (Raster): 52 (4 x 13), Kontakt Finish: Gold, Kontaktmaterial: Beryllium Copper,

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5401

5401

Teilbestand: 1088

Art: PLCC, Anzahl der Positionen oder Pins (Raster): 68 (4 x 17), Kontakt Finish: Gold, Kontaktmaterial: Beryllium Copper,

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5515A

5515A

Teilbestand: 274

Art: PLCC, Kontakt Finish: Gold, Kontaktmaterial: Beryllium Copper,

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5280

5280

Teilbestand: 1656

Art: PLCC, Anzahl der Positionen oder Pins (Raster): 28 (4 x 7), Kontakt Finish: Gold, Kontaktmaterial: Beryllium Copper,

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5733

5733

Teilbestand: 1411

Art: PLCC, Anzahl der Positionen oder Pins (Raster): 32 (2 x 7, 2 x 9), Kontakt Finish: Gold, Kontaktmaterial: Beryllium Copper,

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5437

5437

Teilbestand: 2621

Art: SOIC, 0.15 to 0.35" Wide, Anzahl der Positionen oder Pins (Raster): 28 (2 x 14), Kontakt Finish: Gold,

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6151

6151

Teilbestand: 5827

Art: QFP, 0.50mm Pitch, Anzahl der Positionen oder Pins (Raster): 144 (13 x 13), Kontakt Finish: Gold,

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6108

6108

Teilbestand: 1454

Art: SOIC, 0.30 to 0.60" Wide, Anzahl der Positionen oder Pins (Raster): 40 (2 x 20), Kontakt Finish: Gold,

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6107

6107

Teilbestand: 1652

Art: SOIC, 0.30 to 0.60" Wide, Anzahl der Positionen oder Pins (Raster): 32 (2 x 16), Kontakt Finish: Gold,

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