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Magnetsensoren - Schalter (Solid State)

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AH374-SA-7
Diodes Incorporated

AH374-SA-7

Teilbestand: 185503

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: North Pole, South Pole, Erfassungsbereich: 5mT Trip, -5mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 2.2V ~ 20V,

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AH3775-P-A
Diodes Incorporated

AH3775-P-A

Teilbestand: 149937

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 9mT Trip, -9mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH372-W-7
Diodes Incorporated

AH372-W-7

Teilbestand: 170318

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: North Pole, South Pole, Erfassungsbereich: 5mT Trip, -5mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 2.2V ~ 20V,

Wunschzettel
AH3360-FT4-7
Diodes Incorporated

AH3360-FT4-7

Teilbestand: 117

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 4.6mT Trip, 0.9mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 85°C, Spannungsversorgung: 1.6V ~ 3.6V,

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AH3377-P-B
Diodes Incorporated

AH3377-P-B

Teilbestand: 103576

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 11.5mT Trip, 9mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH1807-P-A
Diodes Incorporated

AH1807-P-A

Teilbestand: 122232

Funktion: Omnipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, Erfassungsbereich: ±11.5mT Trip, ±10mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 2.5V ~ 5.5V,

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AH3766Q-P-A
Diodes Incorporated

AH3766Q-P-A

Teilbestand: 183131

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 14mT Trip, -14mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH3782-P-A
Diodes Incorporated

AH3782-P-A

Teilbestand: 186479

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 6mT Trip, -6mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH3772-P-A
Diodes Incorporated

AH3772-P-A

Teilbestand: 177670

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 4mT Trip, -4mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH3360-FA-7
Diodes Incorporated

AH3360-FA-7

Teilbestand: 139239

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 4.6mT Trip, 0.9mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 85°C, Spannungsversorgung: 1.6V ~ 3.6V,

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AH3762Q-P-B
Diodes Incorporated

AH3762Q-P-B

Teilbestand: 67882

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 4mT Trip, -4mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH175-PG-B-B
Diodes Incorporated

AH175-PG-B-B

Teilbestand: 136025

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 8mT Trip, -8mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3.5V ~ 20V,

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AH3372-P-B
Diodes Incorporated

AH3372-P-B

Teilbestand: 143636

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 30mT Trip, 20mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH3777-SA-7
Diodes Incorporated

AH3777-SA-7

Teilbestand: 131446

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 17mT Trip, -17mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH3765Q-W-7
Diodes Incorporated

AH3765Q-W-7

Teilbestand: 186907

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 9mT Trip, -9mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH1808-W-7
Diodes Incorporated

AH1808-W-7

Teilbestand: 155468

Funktion: Omnipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, Erfassungsbereich: ±6mT Trip, ±5mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 85°C, Spannungsversorgung: 2.5V ~ 5.5V,

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AH3376-P-B
Diodes Incorporated

AH3376-P-B

Teilbestand: 173553

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 10mT Trip, 8.5mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH3373-SA-7
Diodes Incorporated

AH3373-SA-7

Teilbestand: 110749

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 55mT Trip, 35mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH1806-W-7
Diodes Incorporated

AH1806-W-7

Teilbestand: 190993

Funktion: Omnipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, Erfassungsbereich: ±4.5mT Trip, ±4mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 2.5V ~ 5.5V,

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AH3768Q-P-A
Diodes Incorporated

AH3768Q-P-A

Teilbestand: 178177

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 20mT Trip, -20mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH3776-P-A
Diodes Incorporated

AH3776-P-A

Teilbestand: 100558

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 14mT Trip, -14mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH3376-SA-7
Diodes Incorporated

AH3376-SA-7

Teilbestand: 144843

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 10mT Trip, 8.5mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH266K-PG-B-B
Diodes Incorporated

AH266K-PG-B-B

Teilbestand: 138752

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 10mT Trip, -10mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 4V ~ 28V,

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AH183-PG-A
Diodes Incorporated

AH183-PG-A

Teilbestand: 140833

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 6mT Trip, 1mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 2.5V ~ 5.5V,

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AH3372-SA-7
Diodes Incorporated

AH3372-SA-7

Teilbestand: 139931

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 3mT Trip, 2mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH173-PG-A-B
Diodes Incorporated

AH173-PG-A-B

Teilbestand: 148492

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 8mT Trip, -8mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 20V,

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AH1804-FA-7
Diodes Incorporated

AH1804-FA-7

Teilbestand: 153884

Funktion: Omnipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, Erfassungsbereich: ±6mT Trip, ±1.5mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 2.5V ~ 3.6V,

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AH375-PG-A
Diodes Incorporated

AH375-PG-A

Teilbestand: 150068

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 6mT Trip, -6mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 2.2V ~ 20V,

Wunschzettel
AH180-PG-A
Diodes Incorporated

AH180-PG-A

Teilbestand: 83

Funktion: Omnipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, Erfassungsbereich: ±6mT Trip, ±2mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 2.5V ~ 5.5V,

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AH173-WG-7-B
Diodes Incorporated

AH173-WG-7-B

Teilbestand: 146720

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 6mT Trip, -6mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 20V,

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AH175-PG-A-A
Diodes Incorporated

AH175-PG-A-A

Teilbestand: 120832

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 6mT Trip, -6mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3.5V ~ 20V,

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AH1903-FA-7
Diodes Incorporated

AH1903-FA-7

Teilbestand: 143170

Funktion: Omnipolar, Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, South Pole, Erfassungsbereich: ±4.8mT Trip, ±3.8mT Release; 4.8mT Trip, 0.9mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 1.6V ~ 3.6V,

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AH3373-W-7
Diodes Incorporated

AH3373-W-7

Teilbestand: 131708

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 55mT Trip, 35mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH3768Q-SA-7
Diodes Incorporated

AH3768Q-SA-7

Teilbestand: 180739

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 20mT Trip, -20mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH1806-P-A
Diodes Incorporated

AH1806-P-A

Teilbestand: 168951

Funktion: Omnipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, Erfassungsbereich: ±4.5mT Trip, ±4mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 2.5V ~ 5.5V,

Wunschzettel
AH175-PG-A-B
Diodes Incorporated

AH175-PG-A-B

Teilbestand: 181571

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 8mT Trip, -8mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3.5V ~ 20V,

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