Magnetsensoren - Schalter (Solid State)

AH3362Q-W-7

AH3362Q-W-7

Teilbestand: 165358

Wunschzettel
AH3368Q-P-A

AH3368Q-P-A

Teilbestand: 187666

Wunschzettel
AH276UZ4-CG1

AH276UZ4-CG1

Teilbestand: 142534

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 10mT Trip, -10mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3.5V ~ 16V,

Wunschzettel
AH3363Q-W-7

AH3363Q-W-7

Teilbestand: 120475

Wunschzettel
AH1808-Z-7

AH1808-Z-7

Teilbestand: 145905

Funktion: Omnipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, Erfassungsbereich: ±6mT Trip, ±5mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 85°C, Spannungsversorgung: 2.5V ~ 5.5V,

Wunschzettel
AH3782-P-B

AH3782-P-B

Teilbestand: 93907

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 6mT Trip, -6mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH376-SA-7

AH376-SA-7

Teilbestand: 162144

Wunschzettel
AH3761-PG-B

AH3761-PG-B

Teilbestand: 83304

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 6mT Trip, -6mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH376-P-A

AH376-P-A

Teilbestand: 139468

Wunschzettel
AH376-P-B

AH376-P-B

Teilbestand: 132159

Wunschzettel
AH3777-P-B

AH3777-P-B

Teilbestand: 92751

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 17mT Trip, -17mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH372-P-B

AH372-P-B

Teilbestand: 91621

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: North Pole, South Pole, Erfassungsbereich: 5mT Trip, -5mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 2.2V ~ 20V,

Wunschzettel
AH3765Q-P-B

AH3765Q-P-B

Teilbestand: 67887

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 9mT Trip, -9mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH3363Q-P-B

AH3363Q-P-B

Teilbestand: 76361

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 5.5mT Trip, 3.5mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH3764Q-P-B

AH3764Q-P-B

Teilbestand: 67872

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 6mT Trip, -6mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH3362Q-P-B

AH3362Q-P-B

Teilbestand: 76376

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 3mT Trip, 2mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH3776-P-B

AH3776-P-B

Teilbestand: 96412

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 14mT Trip, -14mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH3769Q-P-B

AH3769Q-P-B

Teilbestand: 69749

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 25mT Trip, -25mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH374-P-B

AH374-P-B

Teilbestand: 100410

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: North Pole, South Pole, Erfassungsbereich: 5mT Trip, -5mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 2.2V ~ 20V,

Wunschzettel
AH3766Q-P-B

AH3766Q-P-B

Teilbestand: 67872

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 14mT Trip, -14mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH3768Q-P-B

AH3768Q-P-B

Teilbestand: 69840

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 20mT Trip, -20mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH3366Q-P-B

AH3366Q-P-B

Teilbestand: 76292

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 10mT Trip, 8mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH3365Q-P-B

AH3365Q-P-B

Teilbestand: 76369

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 10mT Trip, 8mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH173-PG-B-A

AH173-PG-B-A

Teilbestand: 76330

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 6mT Trip, -6mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 20V,

Wunschzettel
AH3369Q-P-B

AH3369Q-P-B

Teilbestand: 72507

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 17.5mT Trip, 1mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH3367Q-P-B

AH3367Q-P-B

Teilbestand: 72519

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 11.5mT Trip, 9mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH337-PG-B

AH337-PG-B

Teilbestand: 70495

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 15mT Trip, 3mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 4.2V ~ 28V,

Wunschzettel
AH3781-P-B

AH3781-P-B

Teilbestand: 93953

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 4mT Trip, -4mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH3767Q-P-B

AH3767Q-P-B

Teilbestand: 67858

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 17mT Trip, -17mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH183-PG-B

AH183-PG-B

Teilbestand: 54290

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 6mT Trip, 1mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 2.5V ~ 5.5V,

Wunschzettel
AH3364Q-P-B

AH3364Q-P-B

Teilbestand: 76313

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 8mT Trip, 6mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH3775-P-B

AH3775-P-B

Teilbestand: 97704

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 9mT Trip, -9mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH211Z4-AG1

AH211Z4-AG1

Teilbestand: 118498

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 6mT Trip, -6mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3.5V ~ 16V,

Wunschzettel
AH175-PG-B-A

AH175-PG-B-A

Teilbestand: 196994

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 6mT Trip, -6mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3.5V ~ 20V,

Wunschzettel
AH211Z4-BG1

AH211Z4-BG1

Teilbestand: 152198

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 9mT Trip, -9mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3.5V ~ 16V,

Wunschzettel
AH276Z4-CG1

AH276Z4-CG1

Teilbestand: 116992

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 10mT Trip, -10mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3.5V ~ 16V,

Wunschzettel