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Magnetsensoren - Schalter (Solid State)

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AH3377-W-7
Diodes Incorporated

AH3377-W-7

Teilbestand: 108392

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 11.5mT Trip, 9mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH373-WG-7
Diodes Incorporated

AH373-WG-7

Teilbestand: 190154

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 6mT Trip, -6mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 2.2V ~ 20V,

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AH3377-SA-7
Diodes Incorporated

AH3377-SA-7

Teilbestand: 132089

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 11.5mT Trip, 9mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH1803-WG-7
Diodes Incorporated

AH1803-WG-7

Teilbestand: 166930

Funktion: Omnipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, Erfassungsbereich: ±4mT Trip, ±1mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 2.4V ~ 5.5V,

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AH1894-Z-7
Diodes Incorporated

AH1894-Z-7

Teilbestand: 185277

Funktion: Omnipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, Erfassungsbereich: Programmable, Spannungsversorgung: 1.6V ~ 3.6V,

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AH175-WG-7-B
Diodes Incorporated

AH175-WG-7-B

Teilbestand: 190118

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 8mT Trip, -8mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3.5V ~ 20V,

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AH3763Q-W-7
Diodes Incorporated

AH3763Q-W-7

Teilbestand: 186915

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 4.5mT Trip, -4.5mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH9251-W-7
Diodes Incorporated

AH9251-W-7

Teilbestand: 101807

Funktion: Omnipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, Erfassungsbereich: ±8mT Trip, ±7mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 85°C, Spannungsversorgung: 2.5V ~ 5.5V,

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AH1815-Z-7
Diodes Incorporated

AH1815-Z-7

Teilbestand: 109442

Funktion: Omnipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, Erfassungsbereich: ±54mT Trip, ±49mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 2.5V ~ 5.5V,

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AH1883-ZG-7
Diodes Incorporated

AH1883-ZG-7

Teilbestand: 199146

Funktion: Omnipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, Erfassungsbereich: ±5.5mT Trip, ±0.6mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 1.65V ~ 3.3V,

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AH3781-SA-7
Diodes Incorporated

AH3781-SA-7

Teilbestand: 197725

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 4mT Trip, -4mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH1893-Z-7
Diodes Incorporated

AH1893-Z-7

Teilbestand: 104735

Funktion: Omnipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, Erfassungsbereich: ±4.6mT Trip, ±3.9mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 85°C, Spannungsversorgung: 1.6V ~ 3.6V,

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AH3762Q-W-7
Diodes Incorporated

AH3762Q-W-7

Teilbestand: 186876

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 4mT Trip, -4mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH3767Q-SA-7
Diodes Incorporated

AH3767Q-SA-7

Teilbestand: 186926

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 17mT Trip, -17mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH9246-W-7
Diodes Incorporated

AH9246-W-7

Teilbestand: 155008

Funktion: Omnipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, Erfassungsbereich: ±2.7mT Trip, ±2.2mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 85°C, Spannungsversorgung: 2.5V ~ 5.5V,

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AH3772-SA-7
Diodes Incorporated

AH3772-SA-7

Teilbestand: 137312

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 4mT Trip, -4mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH175-WG-7-A
Diodes Incorporated

AH175-WG-7-A

Teilbestand: 141425

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 6mT Trip, -6mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3.5V ~ 20V,

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AH3372-W-7
Diodes Incorporated

AH3372-W-7

Teilbestand: 105161

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 30mT Trip, 20mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH3362Q-SA-7
Diodes Incorporated

AH3362Q-SA-7

Teilbestand: 120157

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 3mT Trip, 2mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH1389-HK4-7
Diodes Incorporated

AH1389-HK4-7

Teilbestand: 161452

Funktion: Unipolar Switch, Dual, Technologie: Hall Effect, Polarisation: North Pole, South Pole, Erfassungsbereich: -25mT Trip, -20mT Release, 25mT Trip, 20mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 1.6V ~ 3.6V,

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AH3363Q-P-A
Diodes Incorporated

AH3363Q-P-A

Teilbestand: 164799

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 5.5mT Trip, 3.5mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH3767Q-P-A
Diodes Incorporated

AH3767Q-P-A

Teilbestand: 183126

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 17mT Trip, -17mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH3366Q-P-A
Diodes Incorporated

AH3366Q-P-A

Teilbestand: 117996

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 10mT Trip, 8mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH3377-P-A
Diodes Incorporated

AH3377-P-A

Teilbestand: 181947

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 11.5mT Trip, 9mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH1808-P-A
Diodes Incorporated

AH1808-P-A

Teilbestand: 171191

Funktion: Omnipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, Erfassungsbereich: ±6mT Trip, ±5mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 85°C, Spannungsversorgung: 2.5V ~ 5.5V,

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AH3765Q-P-A
Diodes Incorporated

AH3765Q-P-A

Teilbestand: 183083

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 9mT Trip, -9mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH1815-P-A
Diodes Incorporated

AH1815-P-A

Teilbestand: 154039

Funktion: Omnipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: Either, Erfassungsbereich: ±54mT Trip, ±49mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 2.5V ~ 5.5V,

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AH337-PG-A
Diodes Incorporated

AH337-PG-A

Teilbestand: 157901

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 15mT Trip, 3mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 4.2V ~ 28V,

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AH372-P-A
Diodes Incorporated

AH372-P-A

Teilbestand: 135362

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: North Pole, South Pole, Erfassungsbereich: 5mT Trip, -5mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 2.2V ~ 20V,

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AH3762Q-P-A
Diodes Incorporated

AH3762Q-P-A

Teilbestand: 183159

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 4mT Trip, -4mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

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AH3365Q-P-A
Diodes Incorporated

AH3365Q-P-A

Teilbestand: 113928

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 10mT Trip, 8mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH3362Q-P-A
Diodes Incorporated

AH3362Q-P-A

Teilbestand: 100773

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 3mT Trip, 2mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH182-PG-A
Diodes Incorporated

AH182-PG-A

Teilbestand: 182220

Funktion: Unipolar Switch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 6mT Trip, 1mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 2.5V ~ 5.5V,

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AH3777-P-A
Diodes Incorporated

AH3777-P-A

Teilbestand: 184545

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 17mT Trip, -17mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 125°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH3764Q-P-A
Diodes Incorporated

AH3764Q-P-A

Teilbestand: 183137

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: South Pole, Erfassungsbereich: 6mT Trip, -6mT Release, Testbedingung: -40°C ~ 150°C, Spannungsversorgung: 3V ~ 28V,

Wunschzettel
AH374-P-A
Diodes Incorporated

AH374-P-A

Teilbestand: 123425

Funktion: Latch, Technologie: Hall Effect, Polarisation: North Pole, South Pole, Erfassungsbereich: 5mT Trip, -5mT Release, Testbedingung: 25°C, Spannungsversorgung: 2.2V ~ 20V,

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